1. Adaptive Analog VLSI Neural Systems
المؤلف: by M.A. Jabri, R.J. Coggins, B.G. Flower.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Computer science.,Engineering.
رده :
QA76
.
87
B963
1996
2. Algorithms for synthesis and testing of asynchronous circuits
المؤلف: Lavagno, Luciano
المکتبة: (طهران)
موضوع: Electronic digital computers - Circuits - Testing , Electronic digital computers - Circuits - Mathematical models, Asynchronous circuits - Testing, Asynchronous circuits - Mathematical models
رده :
TK
7888
.
4
.
L38
3. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
4. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
E-BOOK
5. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
6. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Testing,Mixed signal circuits--Testing
رده :
TK
,
7874
,.
B825
,
2001
7. Analog signal generation for built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits
المؤلف: / by Gordon W. Roberts, Albert K. Lu
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Signal generators , Design and construction,Integrated circuits , Design and construction,Integrated circuits , Testing,Signal processing , Digital techniques
رده :
E-BOOK
8. Analog signal generation for built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits
المؤلف: / by Gordon W. Roberts, Albert K. Lu
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Signal generators--Design and construction,Integrated circuits--Design and construction,Integrated circuits--Testing,Signal processing--Digital techniques
رده :
TK
,
7872
,.
S5
,
R63
,
1995
9. Automated technology for verification and analysis :
المؤلف: Dang Van Hung, Mizuhito Ogawa (eds.)
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Artificial intelligence, Congresses,Automatic theorem proving, Congresses
رده :
QA76
.
9
.
A96
A88
2013
10. Built-in-self-test and digital self-calibration for RF SoCs
المؤلف: / Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismail
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Radio circuits--Design and construction,Radio circuits--Testing,Systems on a chip--Design and construction,Systems on a chip--Testing,Automatic test equipment.
رده :
TK6561
.
B68
2012
11. Built-in-self-test and digital self-calibration for RF SoCs
المؤلف: Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismail
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Automatic test equipment,Radio circuits-- Design and construction,Radio circuits-- Testing,Systems on a chip-- Design and construction,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK6561
.
B68
2012eb
12. CMOS analog circuit design [electronic resource]
المؤلف: / Phillip E. Allen, Douglas R. Holberg
المکتبة: مكتبة ومركز معلومات جامعة الإمام الرضا العالمية (خراسان رضوی)
موضوع: Linear integrated circuits,Metal oxide semiconductors, Complementary,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Engineering (General).--bisacsh,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Integrated.--bisacsh
رده :
EB
,
TK7874
.
A428
2012
13. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
المؤلف: by Manoj Sachdev.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Engineering design.,Engineering.
14. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint
المؤلف: / by Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Engineering,Computer hardware,Computer science,Logic design,Operating systems (Computers),Algebra, Data processing,Systems engineering,Electronic books
رده :
E-BOOK
15. Digital design and fabrication
المؤلف: / Vojin Oklobdzija
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Computer engineering,Production engineering
رده :
E-BOOK
16. Embedded Processor- Based self-test
المؤلف: / Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis, Yervant Zorian
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Electronic circuits testing,computer engineering
رده :
TK7867
.
E46G5
2009
17. Embedded processor-based self-test
المؤلف: / by Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis and Yervant Zorian
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Electronic circuits--Testing,Computer engineering.
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
G59
,
2004
18. Fault detection in digital circuits
المؤلف: Friedman, Arthur D.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Electronic digital computers - Testing
رده :
TK
7887
.
F75
19. Fault detection in digital circuits
المؤلف: / (by) Arthur D. Friedman (and) Premachandran R. Menon
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic digital computers - Circuits - Testing,Electric fault location
رده :
TK
7887
.
F75
20. Fault detection in digital circuits
المؤلف: Friedman, Arthur D
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Electronic digital computers-- Testing
رده :
TK
7887
.
F75
